產業應用 | Industry Application

光學檢測與量測
直驅馬達應用

Optical Inspection & Metrology — Direct Drive Applications

AOI 光學檢測、座標量測機與測試機要求運動極為平穩、無振動,且具備奈米級的穩定性與重複性。直驅馬達消除傳動鏈的間隙與遲滯,無鐵芯線性馬達無齒槽運動、RMK/RMF 無槽馬達運動極均勻,RDDS 旋轉子系統則作為即用型測試台——確保量測結果不受驅動振動影響。

產業需求 | Requirements

量測與檢測的驅動挑戰Drive challenges in metrology & inspection

量測平台與檢測軸對運動平穩度、定位穩定性與整合度有極高要求。

極平穩無振動運動Ultra-Smooth, Vibration-Free Motion

無齒槽・無漣波

量測與檢測對振動極為敏感。UPLplus 無鐵芯線性馬達無齒槽力與漣波力;RMK/RMF 無槽鐵芯馬達吸引力低、運動極為均勻,確保掃描與量測過程平順。

高定位精度與重複性Positioning Accuracy & Repeatability

零齒隙・直接驅動

直驅消除傳動間隙與遲滯,定位精度直接取決於量測系統。整合式量測的子系統提供閉環位置回授,達成高重複性的量測定位。

即用型旋轉測試台Ready-to-Use Testing Tables

RDDS:testing tables(metrology)

旋轉量測與測試需要整合馬達、軸承、量測與冷卻的即用模組。RDDS 旋轉直驅子系統官方應用即包含測試台(testing tables),服務量測(metrology)產業。

緊湊整合與免維護Compact Integration & Maintenance-Free

無接觸・無磨耗

量測儀器空間受限且要求長期穩定。直驅無接觸磨耗、免維護;UPLplus 緊湊輕量、Z 軸致動器整合量測系統,利於量測儀器的小型化與長期一致性。

Schaeffler 解決方案 | Solutions

量測與檢測直驅方案Direct drive solutions for metrology & inspection

線性馬達作掃描軸、RDDS 子系統作旋轉測試台、RMK/RMF 作極均勻旋轉、Z 軸作檢測升降軸。

UPLplus

無鐵芯線性馬達Ironless Linear Motor

無齒槽、無漣波力的無鐵芯線性馬達,運動極平穩,官網明列應用於量測與檢測機械。力質比 +42%、移動質量小,適合 AOI 與光學量測平台的高動態掃描軸。

  • 峰值力 100 – 1,300 N,速度達 30.4 m/s
  • 無齒槽(無鐵芯設計),運動極平穩
  • 官網應用:量測與檢測機械、氣浮軸
RDDS1 · RDDS2

RDDS 旋轉直驅子系統Rotary Direct Drive Systems

整合扭矩馬達、精密軸承、量測與冷卻的即用型旋轉模組,官方應用明列測試台(testing tables),服務量測(metrology)產業。無背隙、高剛性、運轉平穩,作為旋轉量測台與測試轉台的即裝即用方案。

  • RDDS1 Ø130 – 230 mm、RDDS2 Ø240 – 565 mm
  • 整合馬達 + 軸承 + 量測 + 冷卻
  • 無背隙、高剛性、運轉平穩
  • 官方應用:測試台、metrology 產業
RMK · RMF

無槽鐵芯扭矩馬達Slotless Torque Motor

無槽鐵芯永磁 AC 同步馬達,吸引力低、運動極為均勻、最佳同步,適合運動方向幾乎無外力的高精度旋轉量測。設計與直徑彈性高,可採扁平或同軸配置整合進量測機構。

  • 直徑 70 – 2,500 mm,扭矩 2 – 15,000 Nm
  • 無齒槽,運動極為均勻、最佳同步
  • 扁平式或同軸式設計,用於高精度應用
LDDS-078 · LRAM

Z 軸短行程致動器Z-Axis Short Stroke Actuators

Schaeffler Z 軸模組用於光學檢測與測試機。LDDS-078 音圈 Z 軸緊湊、整合量測、十億次循環可靠;LRAM 氣浮 Z 軸無摩擦、移動質量僅 10 g,適合探針測試與輕量檢測升降軸。

  • LDDS-078 行程 5 mm,整合式量測系統
  • LRAM 無摩擦氣浮軸承,加速度達 1,000 m/s²
  • 應用:光學檢測、測試機、探針測試
應用案例 | Application Cases

量測與檢測的典型應用場景Typical applications in metrology & inspection

晶圓 AOI 檢測、光學掃描與多層量測/鑽孔皆以直驅多軸平台達成;無鐵芯線性馬達提供無齒槽、恆定掃描速度的平穩運動,直驅旋轉軸提供高精度對位,確保量測影像品質與重複性。

XYT 晶圓 AOI 檢測與量測平台
XYT 晶圓檢測 | XYT Wafer AOI
XYT 晶圓 AOI 檢測與量測平台
Schneeberger 客製 XYT 晶圓 AOI 檢測與量測平台以 X/Y 線性軸搭配旋轉 T 軸構成,達奈米級穩定度與毫秒級 Move & Settle 響應,適用晶圓自動光學檢測、光學掃描與量測。無鐵芯線性馬達(UPLplus)驅動 AOI 掃描軸,無齒槽、無漣波避免量測的週期性誤差;直驅旋轉軸(RMK/RMF)提供晶圓對位,恆定掃描速度確保影像品質。
客製 XYT UPLplus RMK/RMF
光學掃描精密定位平台
光學掃描 | Optical Scanning
光學掃描精密定位平台
光學掃描檢測需要精密的 X/Y 與旋轉定位,並維持恆定掃描速度以避免影像失真。IDAM 客製多軸系統以直驅技術構成精密 X/Y 平台與旋轉軸,無齒槽、無漣波的平穩運動確保光學掃描的影像品質與重複性。(圖:IDAM 光學掃描精密 X/Y 平台)
線性馬達 直驅旋轉 客製多軸
全自動多層量測與鑽孔系統
多層量測 / 鑽孔 | Measuring & Drilling
全自動多層量測與鑽孔系統
PCB 多層板的全自動量測與鑽孔需要高動態、高精度的 X/Y 龍門軸與快速定位。IDAM 客製多軸系統以直驅線性馬達驅動龍門與進給軸,達成高加速、零齒隙與微米級重複定位,提升量測與鑽孔的產能與精度。(圖:IDAM 全自動多層量測與鑽孔系統)
線性馬達 L1 · L7 客製多軸
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